概述
傳統(tǒng)EL檢測(cè)設(shè)備通過EL方式得到電池內(nèi)外部的缺陷信息，但由于晶格、柵線等因素的干擾，需要通過檢驗(yàn)人員進(jìn)行細(xì)致的挑選，耗時(shí)耗力。同時(shí)由于人工的存在，造成判據(jù)存在差異性，無法實(shí)現(xiàn)一致性的檢出。
傳統(tǒng)EL檢測(cè)設(shè)備通過EL方式得到電池內(nèi)外部的缺陷信息，但由于晶格、柵線等因素的干擾，需要通過檢驗(yàn)人員進(jìn)行細(xì)致的挑選，耗時(shí)耗力。同時(shí)由于人工的存在，造成判據(jù)存在差異性，無法實(shí)現(xiàn)一致性的檢出。
- 電池片EL分選檢測(cè)軟件
電池片EL分選儀檢測(cè)軟件是機(jī)器視覺公司-無錫創(chuàng)視新科技全力打造的檢測(cè)產(chǎn)品之一，可有效利用現(xiàn)有EL設(shè)備，替代人工實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷判斷。
傳統(tǒng)EL檢測(cè)設(shè)備通過EL方式得到電池內(nèi)外部的缺陷信息，但由于晶格、柵線等因素的干擾，需要通過檢驗(yàn)人員進(jìn)行細(xì)致的挑選，耗時(shí)耗力。同時(shí)由于人工的存在，造成判據(jù)存在差異性，無法實(shí)現(xiàn)一致性的檢出。
采用無錫創(chuàng)視新科技提供的EL機(jī)器自動(dòng)檢測(cè)軟件，可有效的實(shí)現(xiàn)判據(jù)的一致性，用戶可設(shè)定隱裂區(qū)域大小、劃傷區(qū)域大小、斷柵長(zhǎng)度及數(shù)量等作為產(chǎn)品好壞的依據(jù)，輕松容易的實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品分類。
無錫創(chuàng)視新科技EL機(jī)器自動(dòng)檢測(cè)軟件，對(duì)每張圖像進(jìn)行處理，并在圖像內(nèi)缺陷處進(jìn)行標(biāo)注，將缺陷標(biāo)注區(qū)域用面積、長(zhǎng)度、數(shù)量等進(jìn)行表述，清晰易懂。軟件還可根據(jù)您檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，調(diào)整設(shè)定檢出的判據(jù)，例如：通過斷柵的數(shù)量與斷柵的長(zhǎng)度相結(jié)合的復(fù)合判據(jù)來確定A/B片。
產(chǎn)品參數(shù)：
| 設(shè)備尺寸 | 現(xiàn)有設(shè)備改造 |
| 適用Wafer尺寸 | 125x125mm/156x156mm（±0.5mm） |
| 設(shè)備產(chǎn)能 | 1800pics/h |
| 破片率 | <0.1% |
產(chǎn)品特性：
全自主軟件分析系統(tǒng)
可選配分倉(cāng)模塊
便捷式標(biāo)定及維護(hù)
極大的減少檢驗(yàn)人員的數(shù)量
柔性設(shè)定檢驗(yàn)判據(jù)，使得設(shè)備可適用于不同級(jí)別產(chǎn)品的檢驗(yàn)
一致性的判斷依據(jù)，避免誤檢
全中文菜單及操作頁(yè)面
適用于各類EL分選儀
多晶太陽(yáng)能電池片EL檢測(cè)效果：
單晶太陽(yáng)能電池片EL檢測(cè)：
